電子設備高低溫測試設備 冷熱循環試驗箱
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電子設備高低溫測試設備 冷熱循環試驗箱

  • 電子設備高低溫測試設備 冷熱循環試驗箱 根據試驗需求及測試標準分為三箱式和兩箱式,區別在於試驗方式和設備的內部結構不同。三箱式分為蓄冷箱,蓄熱箱和試驗箱,產品在測試時是放置在試驗箱內。兩箱式分為高溫箱和低溫箱,是通過電機帶動吊籃升降來實現高低溫的切換,要測試的通信、通訊產品放在吊籃裏,是隨吊籃一起移動的.更多可聯係18033338362.
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    電子設備高低溫測試設備 冷熱循環試驗箱

    設備介紹:

       電子設備高低溫測試設備 冷熱循環試驗箱 根據試驗需求及測試標準分為(wei) 三箱式和兩(liang) 箱式,區別在於(yu) 試驗方式和設備的內(nei) 部結構不同。三箱式分為(wei) 蓄冷箱,蓄熱箱和試驗箱,產(chan) 品在測試時是放置在試驗箱內(nei) 。兩(liang) 箱式分為(wei) 高溫箱和低溫箱,是通過電機帶動吊籃升降來實現高低溫的切換,要測試的通信、通訊產(chan) 品放在吊籃裏,是隨吊籃一起移動的.更多可聯係18033338362.

    電子設備高低溫測試設備 冷熱循環試驗箱主要參數:

    1.內(nei) 箱尺寸: 350*400*350mm  (寬,高,深)

      外箱尺寸: 1560*2000*1500  (寬,高,深)

    2.高低溫度衝(chong) 擊範圍:-40℃~+150℃(測試箱溫度範圍)

    3.預熱溫度範圍:常溫~+165℃;(儲(chu) 存箱溫度範圍)

    4.預冷溫度範圍:常溫~-65℃;約60min(儲(chu) 存箱溫度範圍)

                                (注:降溫時間為(wei) 低溫室單獨運轉時的性能)

    5.試驗方式:2溫區或3溫區可選擇;

    6.溫度波動度:±0.5℃

    7.溫度偏差:±2.0℃

    8.溫度衝(chong) 擊恢複時間:≤5min

    9.溫度衝(chong) 擊移動複時間:≤10S

    10.試樣限製:本實驗設備禁止易燃、爆炸、易揮發性物質試樣的試驗或儲(chu) 存;腐蝕性物質試樣的試驗或儲(chu) 存;生物試樣的試驗或儲(chu) 存;強電磁發射源試樣的試驗或儲(chu) 存。

    電子設備高低溫測試設備 冷熱循環試驗箱測控係統:

    1.控製器:日本OYO9226S觸屏中英文顯示器+PLC﹙控製軟件﹚+溫控模塊

    2.運行方式:程序方式

         ﹙1﹚控製對象  試驗區曝露溫度

                         高溫恒溫區預熱溫度

                         低溫恒溫區預熱溫度

                         低溫恒溫區除霜溫度

         ﹙2﹚指示精度  0.1℃

         ﹙3﹚輸    入  熱電偶  TDIN

         ﹙4﹚控製方式  微電腦PID+SSR控製

    3.設定方式:中文菜單,觸摸屏方式輸入。

    4.程序容量:100組程式,每個(ge) 程序最大3步;每個(ge) 程序可設1000次循環,最大循環設定9999cycles;

    5.設定範圍:預熱預冷箱區

        原理:電子設備高低溫測試設備 冷熱循環試驗箱主要用於(yu) 測試複合材料或材料結構在瞬間下經極高溫及極低溫的連續環境下衝(chong) 擊所能忍受的程度,得以在最短時間內(nei) 檢測樣品因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷(shang) 害。是LED、金屬、光電、塑料、照明、橡膠、通訊、電子等成品或半成品材料行業(ye) 必備的溫衝(chong) 測試設備。


     

     

     

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